Measurement of the form factors of charged kaon semileptonic decays
Measurement of the form factors of charged kaon semileptonic decays
About this item
Full title
Author / Creator
Batley, J. R. , Lazzeroni, C. , Munday, D. J. , Slater, M. W. , Wotton, S. A. , Bocquet, G. , Cundy, D. , Falaleev, V. , Fidecaro, M. , Gatignon, L. , Gonidec, A. , Kubischta, W. , Maier, A. , Norton, A. , Patel, M. , Peters, A. , Balev, S. , Frabetti, P. L. , Gersabeck, E. , Hristov, P. , Kozhuharov, V. , Litov, L. , Madigozhin, D. , Molokanova, N. , Polenkevich, I. , Potrebenikov, Yu , Shkarovskiy, S. , Stoynev, S. , Zinchenko, A. , Winston, R. , Rubin, P. , Walker, A. , Dalpiaz, P. , Damiani, C. , Fiorini, M. , Scarpa, M. , Baldini, W. , Cotta Ramusino, A. , Gianoli, A. , Calvetti, M. , Iacopini, E. , Lenti, M. , Ruggiero, G. , Bizzeti, A. , Veltri, M. , Behler, M. , Eppard, K. , Hita-Hochgesand, M. , Kleinknecht, K. , Marouelli, P. , Moosbrugger, U. , Renk, B. , Wanke, R. , Winhart, A. , Coward, D. , Dabrowski, A. , Fonseca Martin, T. , Shieh, M. , Szleper, M. , Velasco, M. , Wood, M. D. , Anzivino, G. , Imbergamo, E. , Nappi, A. , Piccini, M. , Raggi, M. , Petrucci, M. C. , Costantini, F. , Doble, N. , Fiorini, L. , Giudici, S. , Pierazzini, G. , Venditti, S. , DiLella, L. , Lamanna, G. , Michetti, A. , Cerri, C. , Fantechi, R. , Bloch-Devaux, B. , Cheshkov, C. , Chèze, J. B. , De Beer, M. , Derré, J. , Marel, G. , Mazzucato, E. , Peyaud, B. , Vallage, B. , Holder, M. , Ziolkowski, M. , Bifani, S. , Clemencic, M. , Goy Lopez, S. , Biino, C. , Cartiglia, N. , Marchetto, F. , Dibon, H. , Jeitler, M. , Markytan, M. , Neuhofer, G. , Widhalm, L. , SLAC National Accelerator Lab., Menlo Park, CA (United States) and Fermi National Accelerator Lab. (FNAL), Batavia, IL (United States)
Publisher
United States: Springer Berlin
Journal title
Language
English
Formats
Publication information
Publisher
United States: Springer Berlin
Subjects
More information
Scope and Contents
Contents
A measurement of the form factors of charged kaon semileptonic decays is presented, based on 4.4 × 106K± → π0e±νe (K e3 ± ) and 2.3 × 106K± → π0μ±νμ (K μ3 ±) decays collected in 2004 by the NA48/2 experiment. The results are obtained with improved precision as compared to earlier measurements. The combination of measurements in the K e3 ± and K μ3...
Alternative Titles
Full title
Measurement of the form factors of charged kaon semileptonic decays
Authors, Artists and Contributors
Author / Creator
Lazzeroni, C.
Munday, D. J.
Slater, M. W.
Wotton, S. A.
Bocquet, G.
Cundy, D.
Falaleev, V.
Fidecaro, M.
Gatignon, L.
Gonidec, A.
Kubischta, W.
Maier, A.
Norton, A.
Patel, M.
Peters, A.
Balev, S.
Frabetti, P. L.
Gersabeck, E.
Hristov, P.
Kozhuharov, V.
Litov, L.
Madigozhin, D.
Molokanova, N.
Polenkevich, I.
Potrebenikov, Yu
Shkarovskiy, S.
Stoynev, S.
Zinchenko, A.
Winston, R.
Rubin, P.
Walker, A.
Dalpiaz, P.
Damiani, C.
Fiorini, M.
Scarpa, M.
Baldini, W.
Cotta Ramusino, A.
Gianoli, A.
Calvetti, M.
Iacopini, E.
Lenti, M.
Ruggiero, G.
Bizzeti, A.
Veltri, M.
Behler, M.
Eppard, K.
Hita-Hochgesand, M.
Kleinknecht, K.
Marouelli, P.
Moosbrugger, U.
Renk, B.
Wanke, R.
Winhart, A.
Coward, D.
Dabrowski, A.
Fonseca Martin, T.
Shieh, M.
Szleper, M.
Velasco, M.
Wood, M. D.
Anzivino, G.
Imbergamo, E.
Nappi, A.
Piccini, M.
Raggi, M.
Petrucci, M. C.
Costantini, F.
Doble, N.
Fiorini, L.
Giudici, S.
Pierazzini, G.
Venditti, S.
DiLella, L.
Lamanna, G.
Michetti, A.
Cerri, C.
Fantechi, R.
Bloch-Devaux, B.
Cheshkov, C.
Chèze, J. B.
De Beer, M.
Derré, J.
Marel, G.
Mazzucato, E.
Peyaud, B.
Vallage, B.
Holder, M.
Ziolkowski, M.
Bifani, S.
Clemencic, M.
Goy Lopez, S.
Biino, C.
Cartiglia, N.
Marchetto, F.
Dibon, H.
Jeitler, M.
Markytan, M.
Neuhofer, G.
Widhalm, L.
SLAC National Accelerator Lab., Menlo Park, CA (United States)
Fermi National Accelerator Lab. (FNAL), Batavia, IL (United States)
Identifiers
Primary Identifiers
Record Identifier
TN_cdi_osti_scitechconnect_1490853
Permalink
https://devfeature-collection.sl.nsw.gov.au/record/TN_cdi_osti_scitechconnect_1490853
Other Identifiers
ISSN
1029-8479
E-ISSN
1029-8479